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ET150台阶仪

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Kosaka ET150台阶仪

KOSAKAET150基于WindowsXP系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS及平板显示等。

KosakaET150台阶仪



株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,是一家具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。

KOSAKAET150基于WindowsXP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。

ET150配备了各种型号探针,提供了通过程序控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。
 


型号 ET150
最大样品尺寸 φ160x48mm
样品台 尺寸 φ160
倾斜度 ±2°(XY手动)
承重 2Kg
检出器 触针力 10μN-500μN(1mg-50mg)
范围 600μm(0.1nm分辨率)
驱动 直动式(差动变压器)
触针 R2μm顶角60°
X轴 最大测长 100mm
直线度 0.02μm/100mm
速度 0.005-20mm/s
重复性 ±5μm(定位)
Y轴 最大测长 25mm/手动
Z轴 最大测长 50mm
放大倍数 垂直 50-2000000
水平 1-10000
监控系统 摄像装置 1/3inchCCD
监视装置 视频捕捉板
移动方法 手动
辅助功能 教学、机动倾斜、倾斜度分析、检出器自动停止功能等
应用 成像、台阶、粗糙度、波纹度和倾斜度
重复性 1σ1nm
电源 AC90-240V50/60Hz300VA
外观尺寸 W500xD440xH630mm120Kg(不含防震台)





 

前制程机台(如曝光机、溅镀机、蚀刻机)bestrecipe找寻。
例如:PVD、CVD、DLC真空溅镀薄膜台阶、应力测试及软质光阻材料等薄膜台阶测量。
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